发明名称 半导体器件及其形成方法
摘要 薄膜半导体器件,例如TFT及其制造方法。TFT形成在绝缘衬底上。在该衬底上先形成基本上为非晶半导体涂层。再在该涂层上形成对激光辐射透明的保护涂层。用激光辐射照射该叠层,以改善半导体涂层的结晶度。然后,除去保护涂层使半导体涂层的表面露出。形成栅绝缘膜的涂层,随后形成栅电极。还涉及在绝缘衬底上制造半导体器件,例如TFT。形成主要由氮化铝组成第1涂层后,再形成主要由氧化硅组成的第2涂层,其上可制作半导体器件。
申请公布号 CN1085352A 申请公布日期 1994.04.13
申请号 CN93109877.7 申请日期 1993.07.06
申请人 株式会社半导体能源研究所 发明人 山崎舜平;张宏勇;竹村保彦
分类号 H01L21/02;H01L21/336;H01L21/70;H01L27/00;H01L29/784 主分类号 H01L21/02
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 肖掬昌;叶恺东
主权项 1、一种形成半导体器件的方法,包括下列各步骤:在一绝缘衬底上形成一半导体膜;在所述半导体膜上形成一透明的薄膜;用激光脉冲照射所述半导体膜;除去所述透明薄膜,使所述半导体膜的表面露出;在所述半导体膜上形成一栅绝缘膜;在所述栅绝缘膜上形成布线;以所述的布线为掩膜,按自对准方式,将离子辐射到半导体膜内;以及在所述离子辐射步骤之后,以所述布线为掩膜,用激光脉冲辐照所述半导体膜。
地址 日本神奈川县