METHOD AND APPARATUS FOR CORRECTING FREQUENCY CHARACTERISTIC OF WAVEFORM MEASURING SYSTEM,申请号JP19920243832-传众专利搜索

发明名称	METHOD AND APPARATUS FOR CORRECTING FREQUENCY CHARACTERISTIC OF WAVEFORM MEASURING SYSTEM
摘要
申请公布号	JPH0694754(A)	申请公布日期	1994.04.08
申请号	JP19920243832	申请日期	1992.09.14
申请人	FUJI ELECTRIC CO LTD	发明人	SHIKURA TATSUYUKI
分类号	G01R13/20;(IPC1-7):G01R13/20	主分类号	G01R13/20
代理机构		代理人
主权项
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