发明名称 ELECTROMAGNETIC INDUCTION FLAW DETECTION PROBE
摘要
申请公布号 JPH0694682(A) 申请公布日期 1994.04.08
申请号 JP19920240658 申请日期 1992.09.09
申请人 TOSHIBA CORP 发明人 GOTO MOTOHARU
分类号 G01B7/00;G01N27/90;(IPC1-7):G01N27/90 主分类号 G01B7/00
代理机构 代理人
主权项
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