| 发明名称 |
INSPECTING APPARATUS FOR CRYSTAL DEFECT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0694629(A) |
申请公布日期 |
1994.04.08 |
| 申请号 |
JP19920246077 |
申请日期 |
1992.09.16 |
| 申请人 |
TOSHIBA CORP |
发明人 |
YAMAGUCHI HIROSHI;SEKIGUCHI SHINGO;NISHIKAWA MASAMITSU;NOZAWA MASAHITO |
| 分类号 |
G01N21/88;G01N21/94;G01N21/956;(IPC1-7):G01N21/88 |
主分类号 |
G01N21/88 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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