发明名称 TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICES
摘要
申请公布号 KR940002723(B1) 申请公布日期 1994.03.31
申请号 KR19860001620 申请日期 1986.03.07
申请人 HITACHI LTD. 发明人 SUZUKI, MASAYOSHI;OWADA, JUNICHI;KITAJIMA, MASAAKI;KAWAKAMI, HIDEAKI;SUZUKI, KENKICHI
分类号 G09G3/00;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G09G3/00
代理机构 代理人
主权项
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