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发明名称
Verfahren und Vorrichtung zum Nachweis von Ungleichheiten in der zyklischen Länge von gedruckten Mustern.
摘要
申请公布号
DE3887953(D1)
申请公布日期
1994.03.31
申请号
DE19883887953
申请日期
1988.10.12
申请人
FUTEC INC., TAKAMATSU, KAGAWA, JP
发明人
OHNISHI, RYUJI 5-504, KENEI-JUUTAKU, TAKAMATSU-SHI KAGAWA-KEN, JP
分类号
G01B11/02;B41F33/00;G01N21/956;G06T1/00;G06T7/00;(IPC1-7):G01N21/88;G06F15/70
主分类号
G01B11/02
代理机构
代理人
主权项
地址
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