| 发明名称 | 测量具有显微成象光路的光学仪器曝光时间的方法和装置 | ||
| 摘要 | 根据本发明方法，一配置在测量光路(M)上的具有多个分立测量光阑(2，3)的测量光阑板(4)以及一配置在入射光路(E)上位于标线板(7)附近的具有多个分立遮蔽图形(12，13)的遮蔽板(11)同步运行，因而在测量光路(M)上的测量光阑(2或3)经入射光路(E)借助配属的遮蔽图形(12或13)和具有测量光阑(2，3)轮廓的标线板(7)，同时在观察光路(B)上的目镜中间象面(19)上显示出。 | ||
| 申请公布号 | CN1084654A | 申请公布日期 | 1994.03.30 |
| 申请号 | CN93117848.7 | 申请日期 | 1993.09.18 |
| 申请人 | 莱卡显微及系统有限公司 | 发明人 | L·雷马;M·吉尔伯特;F·赫尔曼 |
| 分类号 | G04F13/02 | 主分类号 | G04F13/02 |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 董巍;肖掬吕 |
| 主权项 | 1.用于测量光学仪器的曝光时间的方法，该光学仪器具有一显微镜成象光路、一观察光路、一测量光路和一入射光路，其特征在于：一个配置在测量光路(M)上的含有多个分立测量光阑(2，3)的测量光阑板(4)和一个配置在入射光路(E)上位于标线板(7)附近的含有多个分立遮蔽图形(12，13)的遮蔽板(11)以如下方式同步运行，位于测量光路(M)上的测量光阑(2)或(3)经入射光路(E)借助所属的遮蔽图形(12或13)和具有测量光阑(2，3)的轮廓或轮廓部分的标线板(7)，同时显示在观察光路(B)上的目镜中间象面(19)上。 | ||
| 地址 | 联邦德国韦茨拉尔 | ||