发明名称 DEFECT INSPECTION DEVICE
摘要
申请公布号 JPH0682380(A) 申请公布日期 1994.03.22
申请号 JP19920235058 申请日期 1992.09.03
申请人 NIKON CORP 发明人 HAYANO FUMITOMO
分类号 G01B11/30;G01N21/88;G01N21/94;G01N21/956;H01L21/66;(IPC1-7):G01N21/88 主分类号 G01B11/30
代理机构 代理人
主权项
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