发明名称 X-RAY DIFFRACTION ANALYSER
摘要
申请公布号 JPH0682398(A) 申请公布日期 1994.03.22
申请号 JP19930037569 申请日期 1993.02.01
申请人 RIGAKU DENKI KOGYO KK 发明人 ARAI TOMOYA;SHOJI TAKASHI
分类号 G01N23/207;G21K1/06;(IPC1-7):G01N23/207 主分类号 G01N23/207
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利