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发明名称 THERMAL SHOCK TEST METHOD FOR ELECTRONIC COMPONENT AND MANUFACTURE THEREOF
摘要
申请公布号 JPH0682515(A) 申请公布日期 1994.03.22
申请号 JP19920231698 申请日期 1992.08.31
申请人 ROHM CO LTD 发明人 SUZUKI TATSUYASU
分类号 G01N3/60;G01N33/38;G01R31/26;G01R31/30;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01N3/60
代理机构 代理人
主权项
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