Prüfeinrichtung zum Prüfen von auf Bauelementen der Schwachstrom- oder Hochfrequenz-Technik aufgebrachten Schaltungen, insbesondere von Schaltungen auf Mikromodul-Bauelementen,申请号AT19630006894-传众专利搜索

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发明名称	Prüfeinrichtung zum Prüfen von auf Bauelementen der Schwachstrom- oder Hochfrequenz-Technik aufgebrachten Schaltungen, insbesondere von Schaltungen auf Mikromodul-Bauelementen
摘要
申请公布号	AT245676(B)	申请公布日期	1966.03.10
申请号	AT19630006894	申请日期	1963.08.27
申请人	VEB ELEKTROMAT	发明人
分类号	G01R	主分类号	G01R
代理机构		代理人
主权项
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