| 发明名称 |
LSI TESTABLE IN EACH ANALOG CIRCUIT BLOCK UNIT, AND TEST METHOD IN EACH ANALOG CIRCUIT BLOCK UNIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0666882(A) |
申请公布日期 |
1994.03.11 |
| 申请号 |
JP19920223919 |
申请日期 |
1992.08.24 |
| 申请人 |
FUJITSU LTD |
发明人 |
AWATA YUTAKA;TOKIWA KOJI;MIYOSHI SEIJI |
| 分类号 |
G01R31/316;G01R31/28;G01R31/3185;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/316 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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