发明名称 METHOD FOR DETERMINING HOMOGENEITY OF AVALANCHE BREAKDOWN OF DIODES WITH POSITIVE TEMPERATURE COEFFICIENT OF VOLTAGE
摘要
申请公布号 RU1536982(C) 申请公布日期 1994.02.28
申请号 SU19884357620 申请日期 1988.01.06
申请人 FIZIKO-TEKHNICHESKIJ INSTITUT IM.A.F.IOFFE RAN 发明人 GUK E.G.;ZUBRILOV A.S.;KOTIN O.A.;SHUMAN V.B.
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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