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发明名称 TEST CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH0651024(A) 申请公布日期 1994.02.25
申请号 JP19920225175 申请日期 1992.07.31
申请人 NEC CORP 发明人 MASUDA TOMOAKI
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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