发明名称 TEST CIRCUIT IN SYSTEM IC
摘要
申请公布号 KR1019940001482(B1) 申请公布日期 1994.02.23
申请号 KR1019900021384 申请日期 1990.12.02
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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