INTEGRATED CIRCUIT SAFETY DEVICE

摘要

On évite des phénomènes de programmation parasite provoqués par les courants de substrat d'un circuit intégré en prévoyant une mesure de ces courants, et un circuit d'invalidation du fonctionnement du circuit intégré quand le résultat de cette mesure dépasse un certain seuil. D'une manière préféré la mesure du courant de substrat est obtenue en réalisant un transistor de type bipolaire (T2) dont la région de base est justement constitué par ce substrat, ou en réalisant un transistor de type à effet de champ (21-23) dont la grille (23) et dont une (21) des régions actives est reliée à la borne de masse du circuit. Mais ces deux liaisons sont différentes. Une des liaisons est directe, l'autre est une liaison soumise aux fluctuations du potentiel du substrat.