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发明名称
INSPECTING APPARATUS FOR DEFECT
摘要
申请公布号
JPH0643111(A)
申请公布日期
1994.02.18
申请号
JP19930089769
申请日期
1993.04.16
申请人
NIKON CORP
发明人
HAGIWARA TSUNEYUKI
分类号
G01B11/30;G01N21/88;G01N21/94;G01N21/956;(IPC1-7):G01N21/88
主分类号
G01B11/30
代理机构
代理人
主权项
地址
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