发明名称 SEMICONDUCTOR WAFER PROBE TESTING METHOD
摘要
申请公布号 JPH0645415(A) 申请公布日期 1994.02.18
申请号 JP19900400397 申请日期 1990.12.04
申请人 TOSHIBA CORP 发明人 SUGA TAKASHI
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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