| 摘要 |
<p>L'invention peut être utilisée pour découvrir et mesurer des paramètres d'inhomogénéité de phase-structure locale dans des couches proches de la surface de métaux et d'alliages. Le procédé consiste à soumettre une surface testée blindée à un rayonnement ionisant, et à mesurer les concentrations de charges électriques dans le flux de leurs porteurs simultanément à partir de 'n' zones choisies arbitrairement de la surface blindée, lesquelles sont ensuite converties en signaux électriques partiels déterminés à partir de la différence de potentiel de contact, ce qui permet, par le traitement des signaux obtenus, de déterminer, en fonction des résultats de ce traitement, les paramètres des inhomogénéités. Le dispositif de détermination de paramètres d'inhomogénéité de phase-structure comprend un convertisseur primaire (1) constitué d'un blindage (2) en matériau conducteur de courant, et d'une source (4) de rayonnement ionisant, ainsi qu'un appareil de mesure de paramètres électriques composé de 'n' éléments (3) sensibles électro-isolés et immobiles l'un par rapport à l'autre, destiné à mesurer la concentration de charges électriques dans les flux de leurs porteurs, la source de rayonnement (4) étant située à distance égale des éléments sensibles (3), un générateur (3) de signaux électriques partiels reliés à une unité de calcul (11) présentant différentes variantes.</p> |
