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发明名称
SLITTER PROVIDED WITH DEFECT INSPECTING DEVICE
摘要
申请公布号
JPH0631693(A)
申请公布日期
1994.02.08
申请号
JP19920215531
申请日期
1992.07.20
申请人
TOSHIN:KK
发明人
FUJIYOSHI IKUO
分类号
B26D1/24;B26D7/27;(IPC1-7):B26D7/27
主分类号
B26D1/24
代理机构
代理人
主权项
地址
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