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发明名称 Verfahren zur Dünnschichtdickenmessung.
摘要
申请公布号 DE68911659(D1) 申请公布日期 1994.02.03
申请号 DE19896011659 申请日期 1989.11.23
申请人 HOOGOVENS GROEP B.V., IJMUIDEN, NL 发明人 DE JONGE, MARINUS WILLEM CORNELIS, IR., NL-1643 LZ SPIERDIJK, NL;LEEK, TAMIS LAMBERTUS MARIA, IR., NL-1827 DL ALKMAAR, NL
分类号 G01B11/06;G01N21/21;(IPC1-7):G01B11/06 主分类号 G01B11/06
代理机构 代理人
主权项
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