发明名称 METHOD OF TESTING OF SEMICONDUCTOR MICRODEVICES
摘要
申请公布号 RU2006983(C1) 申请公布日期 1994.01.30
申请号 SU19904790230D 申请日期 1990.11.16
申请人 ZAKHAROV SERGEJ M 发明人 ZAKHAROV SERGEJ M
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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