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发明名称 TESTING CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH0618627(A) 申请公布日期 1994.01.28
申请号 JP19920177845 申请日期 1992.07.06
申请人 NEC IC MICROCOMPUT SYST LTD 发明人 MAKITA YASUMITSU
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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