Vorrichtung und Verfahren zur Erkennung von Mustern,申请号DE19904017430-传众专利搜索

发明名称	Vorrichtung und Verfahren zur Erkennung von Mustern
摘要
申请公布号	DE4017430(C2)	申请公布日期	1994.01.27
申请号	DE19904017430	申请日期	1990.05.30
申请人	HITACHI, LTD., TOKIO/TOKYO, JP	发明人	NISHIYA, TAKUSHI, MACHIDA, JP;FUNABASHI, MOTOHISA, SAGAMIHARA, JP;KERA, KAZUO, HITACHI, JP
分类号	G06T7/60;G06K9/48;G06T7/00;(IPC1-7):G06K9/80;G06F15/70	主分类号	G06T7/60
代理机构		代理人
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