发明名称 |
X-RAY EXAMINATION APPARATUS |
摘要 |
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申请公布号 |
JPH067332(A) |
申请公布日期 |
1994.01.18 |
申请号 |
JP19930071641 |
申请日期 |
1993.03.30 |
申请人 |
SIEMENS AG |
发明人 |
HAINTSU MAIAA;KAARU KETSUTSUNAA;BUIRUKO KUUFUARU;GEORUKU FUOOGERU |
分类号 |
A61B6/00;A61B6/04;G03B42/02;(IPC1-7):A61B6/00 |
主分类号 |
A61B6/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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