| 发明名称 |
Extended flash writing circuit for testing a memory device |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
GB2232774(B) |
申请公布日期 |
1994.01.12 |
| 申请号 |
GB19900002706 |
申请日期 |
1990.02.07 |
| 申请人 |
* SAMSUNG ELECTRONICS CO LIMITED |
发明人 |
HOON * CHOI;SOO-IN * CHO |
| 分类号 |
G11C29/00;G11C11/401;G11C11/4072;G11C11/409;G11C11/4094;G11C11/4096;G11C29/34;(IPC1-7):G11C7/00 |
主分类号 |
G11C29/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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