发明名称 METHOD OF ACCELERATED TESTING OF MOS INTEGRATED MICROCIRCUITS ON PLATE
摘要
申请公布号 RU2005308(C1) 申请公布日期 1993.12.30
申请号 SU19914900457 申请日期 1991.01.09
申请人 MOSKOVSKIJ INZHENERNO-FIZICHESKIJ INSTITUT 发明人 POPOV VIKTOR D;KATERINICH IGOR I;KURIN FELIKS M;ONOPKO DMITRIJ I;OSPISHCHEV DMITRIJ A
分类号 G01R31/28;G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
地址