发明名称 IN-CIRCUIT TESTER JIG
摘要
申请公布号 JPH05346455(A) 申请公布日期 1993.12.27
申请号 JP19920154795 申请日期 1992.06.15
申请人 ASIA ELECTRON INC 发明人 IMAI MASATOSHI
分类号 G01R1/06;G01R1/073;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R1/06
代理机构 代理人
主权项
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