| 摘要 |
Es wird ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Landungsmessung der Elektronenstrahlen bei Schattenmasken-Bildröhren angegeben. Dieses Verfahren, welches erlaubt, die Landungsmessung von Elektronenflecken auszuführen, deren beide Außenränder nicht innerhalb des Leuchtstoffstreifen liegen, weist folgende Schritte auf: a) Anregen zumindest eines Leuchtstoffstreifens zur Lumineszenz; b) Aufnehmen des Streifens mit einem Bildwandler; c) Auswerten des Ladungsmusters in bezug auf die Außenränder des Leuchtstoffstreifens; d) Aufnehmen des tatsächlichen Leuchtflecks; e) Auswerten dieses Bildes um die Lage der Fleckaußenränder zu ermitteln; g) Bestimmung der Flecklage zu Außenrändern des Streifens und derart gekennzeichnet, daß nach Schritt e) wie folgt verfahren wird: f) Prüfung, ob die Fleckaußenränder innerhalb der Streifenaußenränder liegen, und dann, wenn diese Bedingung erfüllt ist, Schritt g) folgt; andernfalls wird durch einen Hilfsablenker ein Verschiebe- und Meßablauf ausgeführt, bei dem der Elektronenfleck mindestens einmal so verschoben wird, daß seine beiden Außenränder erkennbar werden und wobei mittels der Bildauswertung aus der Verschiebung die ursprüngliche Lage der Fleckaußenränder bestimmt werden. <IMAGE>
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