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经营范围
发明名称
MEASURING DEVICE FOR TEMPERATURE CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR PRODUCT
摘要
申请公布号
JPH05333093(A)
申请公布日期
1993.12.17
申请号
JP19920170121
申请日期
1992.06.03
申请人
MITSUBISHI ELECTRIC CORP
发明人
OKADA MASAAKI
分类号
G01R31/26;H01L21/66;H01L27/00;(IPC1-7):G01R31/26
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
地址
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