首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 Kippverfahren für Knochendichtemesser einer vorhergehenden und nachfolgenden Untersuchung bei seitlicher Prüfung.
摘要
申请公布号 DE69100323(T2) 申请公布日期 1993.12.09
申请号 DE19916000323T 申请日期 1991.06.05
申请人 SOPHA MEDICAL, PARIS, FR 发明人 PARE, CHRISTIAN, F-75116 PARIS, FR;BONNET, GUY, F-75116 PARIS, FR;FLEURY, CHRISTOPHE, F-75116 PARIS, FR
分类号 A61B6/00;A61B6/04;A61B6/08;A61B6/10;G01T1/164;(IPC1-7):A61B6/00 主分类号 A61B6/00
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com