发明名称 RELATION A GRANDE VITESSE D'ESSAIS EN CIRCUIT ET DE FONCTIONNEMENT DE CIRCUITS ELECTRONIQUES.
摘要 On aboutit à un rendement très élevé et à des essais complets pour de petites cartes à circuits, comme celles destinées aux appareils électro-ménagers, par exemple des fers à vapeur. Douze cartes sont chargées dans une palette, où elles sont fixées en place. La palette est chargée dans une armature d'essai (71) qui est susceptible d'effectuer une rotation. Dans une position initiale, des essais en circuit à très basse tension sont réalisés, principalement à partir d'un bloc d'essai postérieur (33a). la manière dont les blocs d'essais sont amenés en position dans une armature qui est susceptible de rotation assure une exécution extrêmement rapide de divers essais tout en ne nécessitant qu'une quantité minime de manipulations. Par ailleurs, on utilise une paire de transistors MOS à effet de champ à canal N au stade de sortie des circuits d'essai, de manière à fournir un spectre de fréquence très large, dans le but d'accélérer des horloes basées sur le temps en modifiant les signaux de référence d'horloge.
申请公布号 BE1005660(A6) 申请公布日期 1993.12.07
申请号 BE19930000696 申请日期 1993.07.07
申请人 E.I. TECHNOLOGY LIMITED 发明人 DOYLE PETER;GUINEE MICHAEL;BYRNE MICHAEL;DUIGNAN JAMES
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28;G01R31/02;G06F15/20 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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