| 发明名称 |
TESTING METHOD, TESTING CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT HAVING TESTING CIRCUIT |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
KR930011423(B1) |
申请公布日期 |
1993.12.06 |
| 申请号 |
KR19900007194 |
申请日期 |
1990.05.19 |
| 申请人 |
FUJITSU LTD. |
发明人 |
TOKUDA, HIDEO;TANIJAWA, DETSU |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/3185;G06F11/22;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
