| 发明名称 |
PROCEDIMIENTO PARA LA INVESTIGACION DE ESTRUCTURAS SUPERFICIALES. |
| 摘要 |
<p>EL INVENTO CONSISTE EN UN PROCEDIMIENTO PARA OBSERVACION DEL INDICE DE FRACTURA Y/O ELEVADA MODULACION DE LA SUPERFICIE DE DIFERENTES ESTRUCTURAS SUPERFICIALES, DONDE ESTAS ESTRUCTURAS SUPERFICIALES SE LLEVAN EN UN CAMPO DE PLASMONES SUPERFICIALES Y SE EXPLORAN MEDIANTE MICROCOPIO DE PLASMONES DE SUPERFICIE.</p> |
| 申请公布号 |
ES2042108(T3) |
申请公布日期 |
1993.12.01 |
| 申请号 |
ES19900105197T |
申请日期 |
1990.03.20 |
| 申请人 |
BASF AKTIENGESELLSCHAFT |
发明人 |
HICKEL, WERNER, DR.;KNOLL, WOLFGANG, DR.;ROTHENHAEUSLER, BENNO, DR. |
| 分类号 |
G01B11/06;G01B11/30;G01N21/552;G01N21/88;(IPC1-7):G01B11/30;G01N21/55 |
主分类号 |
G01B11/06 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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