发明名称 Verfahren zum Herstellen von Fotolackmasken fuer Halbleiterzwecke
摘要
申请公布号 DE1614635(A1) 申请公布日期 1970.03.26
申请号 DE19671614635 申请日期 1967.10.23
申请人 SIEMENS AG 发明人 HENKER,DR.HEINZ
分类号 H01J37/317;H01L21/00 主分类号 H01J37/317
代理机构 代理人
主权项
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