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发明名称 IC MEMORY TEST DEVICE
摘要
申请公布号 JPH05314798(A) 申请公布日期 1993.11.26
申请号 JP19920115799 申请日期 1992.05.08
申请人 HITACHI LTD 发明人 ONISHI FUJIO
分类号 G01R31/28;G11C29/00;G11C29/44;(IPC1-7):G11C29/00;G01R31/318 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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