| 摘要 |
<p>L'invention concerne un détecteur de direction et un procédé d'étalonnage d'un détecteur de direction (14) constitué d'un détecteur de cap (16) absolu. Ledit procédé permet d'étalonner (22) en même temps le détecteur de cap (14) relatif et le détecteur de cap absolu (16) au moyen du rapport angulaire connu entre les maxima et les minima sur la courbe de mesure du détecteur de cap absolu (16). On obtient ces minima et maxima en faisant tourner les capteurs (12-18) dans un angle d'au moins 360°C, en lisant les valeurs de sortie des détecteurs de cap relatif et absolu en de nombreux points et en comparant les valeurs de sortie successives. La valeur de sortie du détecteur de cap relatif au niveau minimum est déduite de la valeur de sortie au niveau maximum, et la différence est divisée par l'angle connu afin d'obtenir une constante de conversion pour le détecteur de cap relatif (14). On obtient le centre et les rayons de la courbe de mesure du détecteur de cap absolu (16) en déterminant les maxima et minima de la courbe dans deux directions perpendiculaires.</p> |
