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发明名称 Semiconductor memory with improved test mode
摘要
申请公布号 US5265100(A) 申请公布日期 1993.11.23
申请号 US19900552567 申请日期 1990.07.13
申请人 SGS-THOMSON MICROELECTRONICS, INC. 发明人 MCCLURE, DAVID C.;COKER, THOMAS A.
分类号 G11C29/00;G11C29/28;G11C29/34;G11C29/38;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
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