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发明名称 TEST PATTERN
摘要
申请公布号 JPH05308664(A) 申请公布日期 1993.11.19
申请号 JP19920110425 申请日期 1992.04.28
申请人 DAIKIN IND LTD 发明人 SATO KIMITOSHI;HARADA KOICHI;SAWARA YOSHIO
分类号 H04N17/00;(IPC1-7):H04N17/00 主分类号 H04N17/00
代理机构 代理人
主权项
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