发明名称 IC-Testsonde auf Membranbasis mit präzise positionierten Kontakten.
摘要
申请公布号 DE68909811(D1) 申请公布日期 1993.11.18
申请号 DE19896009811 申请日期 1989.01.25
申请人 HEWLETT-PACKARD CO., PALO ALTO, CALIF., US 发明人 FOSTER, JACK, D., LOS ALTOS CALIFORNIA 94022, US;GREENSTEIN, MICHAEL, LOS ALTOS CALIFORNIA 94022, US;HUFF, RICHARD, BELMONT CALIFORNIA, US;LESLIE, BRIAN C., CUPERTINO CALIFORNIA 95401, US;MATTA, FARID, MOUNTAIN VIEW CALIFORNIA 94040, US
分类号 G01R31/26;G01R1/073;H01L21/66;H01R11/18;(IPC1-7):G01R1/073 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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