发明名称 SEMICONDUCTOR FILM THICKNESS MEASURING DEVICE
摘要
申请公布号 JPH05302816(A) 申请公布日期 1993.11.16
申请号 JP19920109798 申请日期 1992.04.28
申请人 JASCO CORP;MITSUBISHI ELECTRIC CORP 发明人 NISHIZAWA SEIJI;TAKAHASHI TOKUJI;FUKAZAWA RYOICHI;HATTORI AKIRA
分类号 G01B11/06;(IPC1-7):G01B11/06 主分类号 G01B11/06
代理机构 代理人
主权项
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