| 发明名称 |
DEFECT INSPECTING METHOD FOR MAGNETO-OPTICAL DISK |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH05298834(A) |
申请公布日期 |
1993.11.12 |
| 申请号 |
JP19920126802 |
申请日期 |
1992.04.20 |
| 申请人 |
HITACHI ELECTRON ENG CO LTD |
发明人 |
FURUSAWA TOSHIAKI;TSURU TETSUO |
| 分类号 |
G01B11/30;G01N21/88;G01N21/95;G11B7/004;G11B7/30;G11B11/10;G11B11/105;G11B20/18;(IPC1-7):G11B20/18 |
主分类号 |
G01B11/30 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
