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发明名称 TESTING APPARATUS FOR ELECTRONIC COMPONENT
摘要
申请公布号 JPH05297043(A) 申请公布日期 1993.11.12
申请号 JP19920112036 申请日期 1992.03.19
申请人 NIPPON INTER ELECTRONICS CORP 发明人 ATOBE KAZUO
分类号 G01R31/00;(IPC1-7):G01R31/00 主分类号 G01R31/00
代理机构 代理人
主权项
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