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发明名称
MEMORY TESTING CIRCUIT
摘要
申请公布号
JPH05288814(A)
申请公布日期
1993.11.05
申请号
JP19920119706
申请日期
1992.04.13
申请人
NEC CORP
发明人
TAMAOKI SATOSHI
分类号
G01R31/28;G01R31/319;G11C11/00;G11C11/413;G11C29/00;G11C29/56;(IPC1-7):G01R31/318
主分类号
G01R31/28
代理机构
代理人
主权项
地址
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