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发明名称 METHOD FOR TESTING LOW SOURCE VOLTAGE DATA HOLD CHARACTERISTIC OF SEMICONDUCTOR STATIC RAM
摘要
申请公布号 JPH05290599(A) 申请公布日期 1993.11.05
申请号 JP19920090593 申请日期 1992.04.10
申请人 NEC CORP 发明人 KATO YOSHIYUKI
分类号 G11C11/413;G01R31/28;G11C29/00;G11C29/50;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C11/413
代理机构 代理人
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