首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY
摘要
申请公布号 JPH05282896(A) 申请公布日期 1993.10.29
申请号 JP19920075010 申请日期 1992.03.31
申请人 发明人
分类号 G01R31/28;G11C29/00;G11C29/10;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com