发明名称 Mask and charged particle beam exposure method using the mask
摘要
申请公布号 US5256881(A) 申请公布日期 1993.10.26
申请号 US19920896715 申请日期 1992.06.10
申请人 FUJITSU LIMITED 发明人 YAMAZAKI, SATORU;YASUDA, HIROSHI;SAKAMOTO, KIICHI
分类号 H01L21/027;H01J37/317;H01L21/30;(IPC1-7):H01J37/302 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人
主权项
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