测量电压和/或电场强度的方法和传感器

摘要

本发明涉及一种测量电压和/或电场的方法，它利用晶体(1)所具有的光电效应(纵向光电效应)来实现，为此沿Z方向的偏振光波(17′)的垂直于传播方向(Y方向)，在晶体(1)内沿X轴方向上，将产生一个电场强度的梯度，根据该梯度可获得晶体(1)的折射率n的相应的梯度，由此在该晶体(1)内出现该光波(17′)的取决于场强变化的偏转，所出现的这一偏转可用来测出电压或场强。这里同样地描述一种合适的传感器。

主权项

1、利用晶体所呈现的光电效应测量电压和/或电场强度的方法，在该晶体中穿过一偏振光波，并沿着该光行程传播，利用沿该光行程平行地延伸的接有电压或可接有电压的电极，晶体中的场强和晶体的折射率被改变或可变化，并且根据折射率的变化而产生的光波的变化，将其用来作为在电极上所加电压的量度，其特征在于：这些电极(5，6及7，8)是如此布置的，即在晶体(1)上这些加有电压(9；10，11)的电极(5，6及7，8)沿着相交于光波(17)的扩展方向(晶体(1)的y或x轴方向)的光行程(21)，呈现晶体(1)的Z轴方向上电场强度(Ez)的梯度和折射率(n)的梯度，从而该光波(17)在晶体(1)内随电压偏转，并且这一偏转(偏转范围(26))状态被测出。