SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TEST METHOD,申请号JP19920061606-传众专利搜索

发明名称	SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TEST METHOD
摘要
申请公布号	JPH05268046(A)	申请公布日期	1993.10.15
申请号	JP19920061606	申请日期	1992.03.18
申请人		发明人
分类号	G01R31/26;G01R31/28;H01L21/66;H03K19/00;H03K19/086;(IPC1-7):H03K19/00	主分类号	G01R31/26
代理机构		代理人
主权项
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