Method for examining the physical properties of thin electro-optically active layers.

摘要

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Untersuchung der physikalischen Eigenschaften dünner elektro-optisch aktiver Substanzen. Dies geschieht mit Hilfe polarisierten Lichtes, mit dem die zu untersuchende Schicht bestrahlt wird und das reflektierte Licht bzw. transmittierte Licht auf ein Abbildungssystem gelenkt wird, wobei in der zu untersuchenden Schicht durch die Einstrahlung des polarisierten Lichtes Lichtleitermoden angeregt werden, die sich im Falle einer elektro-optisch aktiven Schicht mit Hilfe eines angelegten modulierten elektrischen Feldes ebenfalls modulieren lassen.